아드반테스트, 1월 23~25일까지 열리는 세미콘코리아에서 5G 커넥티비티 구현하는 최신 반도체 테스트 솔루션 공개

2019-01-16 11:13 출처: Advantest Corporation (NYSE ATE)

도쿄--(뉴스와이어) 2019년 01월 16일 -- 반도체 테스트 장비 공급사인 아드반테스트(Advantest Corporation(TSE: 6857))가 1월 23~25일까지 코엑스에서 열리는 세미콘코리아 2019에서 첨단 IC 테스트 및 웨이퍼 계측 솔루션을 광범위하게 선보일 예정이다.

주디 데이비스(Judy Davies) 아드반테스트 글로벌 마케팅 커뮤니케이션 부문 부사장은 “Advantest는 고객들이 연결된 세계와 5G 테크놀로지 개발을 가속화하는 모든 것을 측정할 수 있도록 돕는 데 집중한다. 당사의 제품 포트폴리오는 한국 고객들의 니즈에 부합할 뿐만 아니라 5G 커뮤니케이션을 위한 글로벌 시장의 필요 조건도 충족시키도록 설계되었다”고 밝혔다.

◇전시 제품

아드반테스트가 전시관 C홀 #C510 부스에서 선보일 제품 중에는 최근 발표한 시스템과 제품 향상이 포함된다. MPT3000 플랫폼은 최신 업그레이드로 PCIe Gen 4 SSD의 개발, 디버깅, 대량 생산을 위한 업계 최초의 완전 통합 테스트 솔루션이 되었다. 또한 UFS3.x와 PCIe Gen4 BGA 포함 차세대 모바일 프로토콜 NAND를 위한 플렉서블 T5851 메모리 테스터, 동종 중 유일하게 차세대 고속 LPDDR5 및 DDR5 메모리의 첨단 요소 평가가 가능한 T5503HS2 시스템, 16 Gbps 이상의 속도로 첨단 장비 테스트를 지원하는 HiFix 고속 메모리 테스트 솔루션, E3650, E5610 등 나노 기술 적용을 위한 측정 솔루션. 포토마스크 및 웨이퍼용 주사 전자 현미경(SEM) E3310. F7000 1X-nm 테크놀로지 노드 전자빔 식각 시스템 등이 해당된다.

부스에는 센서부터 커뮤니케이션까지 차내 전자 장치의 성능 및 신뢰성 향상에 아드반테스트의 테스트 솔루션이 어떻게 사용되는지 보여주는 차량 전시도 예정되어 있다.

또한 부스의 다른 쪽에서는 시스템 레벨 테스트를 위한 T2000 플랫폼과 자동차, 산업, PMIC 적용을 위한 첨단 IC 테스트를 가능하게 하는 V93000 스마트 스케일 시스템의 FVI16 부동 고출력 VI 소스, 새로운 HVI(고전압 VI 소스 및 측정) 모듈을 갖춰 가전 제품에서 대량으로 사용되는 고출력 IC까지 플랫폼 범위를 확장한 EVA100 측정 시스템, 아드반테스트의 테스터에서 사용하도록 설계된 프로브 카드를 선보인다.

◇스폰서 및 프레젠테이션

아드반테스트는 세미콘코리아 2019의 플래티넘 스폰서사로 인더스트리 리더십 만찬을 후원한다. 업계 경영진의 네트워킹을 위한 이번 이벤트는 1월 23일 코엑스 인근 인터콘티넨탈 그랜드 서울 파르나스 호텔 그랜드 볼룸에서 열린다.

1월 24일 코엑스 318호실에서 열리는 5G 및 빅데이터 테스트 포럼에는 아드반테스트코리아 구정환 부장이 ‘자동화 반도체 테스팅’을 주제로 프레젠테이션을 진행한다.

◇소셜미디어

아드반테스트의 글로벌 시장 활약상을 트위터(@Advantest_ATE)를 통해 확인할 수 있다.

아드반테스트(Advantest Corporation) 개요

세계적 수준의 테크놀로지 기업인 아드반테스트는 전자 계기 및 시스템의 설계와 생산에 사용되는 세계 최고의 계측기 제조업체와 반도체 산업을 위한 자동 검사 장비 생산업체이다. 아드반테스트의 첨단 시스템과 제품은 전 세계 최첨단 반도체 생산 라인에 포함된다. 또, 아드반테스트는 나노기술과 테라헤르츠 기술 발전의 이점을 누리게 될 신흥 시장을 염두에 둔 R&D에도 집중하고 있으며 포토마스크 제조에 필수적인 멀티 비전 계측 주사 전자 현미경과 혁신적인 3D 이미징 및 분석 툴을 도입한 바 있다. 1954년 도쿄에서 창립된 아드반테스트는 1982년 미국에 첫 자회사를 설립했으며 현재 세계 곳곳에 다수의 자회사를 보유하고 있다.

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